Kalibreringsskalor för scenmikrometrar

Kort beskrivning:

Substrat:B270
Dimensionell tolerans:-0,1 mm
Tjocklekstolerans:±0,05 mm
Ytjämnhet:3(1)@632,8nm
Ytkvalitet:40/20
Linjebredd:0,1 mm och 0,05 mm
Kanter:Slipad, max 0,3 mm. Fullbredd fasning
Klar bländare:90 %
Parallellism:<5”
Beläggning:Ogenomskinlig krom med hög optisk densitet, flikar <0,01 % vid synlig våglängd
Transparent område, AR: R<0,35%@Synlig våglängd


Produktinformation

Produktetiketter

Produktbeskrivning

Mikrometrar, kalibreringslinjaler och rutnät används ofta inom mikroskopi och andra avbildningstillämpningar för att tillhandahålla standardreferensskalor för mätning och kalibrering. Dessa enheter placeras vanligtvis direkt på mikroskopbordet och används för att karakterisera systemets förstoringsgrad och optiska egenskaper.

En scenmikrometer är ett litet objektglas som innehåller ett rutnät av exakt ritade linjer med kända avstånd. Rutnät används ofta för att kalibrera förstoringsgraden i mikroskop för att möjliggöra exakta storleks- och avståndsmätningar av prover.

Kalibreringslinjaler och rutnät liknar scenmikrometrar genom att de innehåller ett rutnät eller annat mönster av exakt avgränsade linjer. De kan dock vara gjorda av andra material, såsom metall eller plast, och variera i storlek och form.

Dessa kalibreringsenheter är avgörande för att noggrant mäta prover under mikroskop. Genom att använda en känd referensskala kan forskare säkerställa att deras mätningar är noggranna och tillförlitliga. De används ofta inom områden som biologi, materialvetenskap och elektronik för att mäta storlek, form och andra egenskaper hos prover.

Vi presenterar skalrutor för kalibreringsskalor för scenmikrometer – en innovativ och pålitlig lösning för att säkerställa noggranna mätningar inom en mängd olika branscher. Med en rad olika tillämpningar erbjuder denna otroligt mångsidiga produkt oöverträffad noggrannhet och bekvämlighet, vilket gör den till ett viktigt verktyg för yrkesverksamma inom områden som mikroskopi, avbildning och biologi.

I hjärtat av systemet finns scenmikrometern, som ger graderade referenspunkter för att kalibrera mätverktyg som mikroskop och kameror. Dessa hållbara, högkvalitativa mikrometrar finns i en mängd olika storlekar och stilar för att möta behoven hos olika branscher, från enkla enlinjeskalor till komplexa rutnät med flera kors och cirklar. Alla mikrometrar är laseretsade för noggrannhet och har en högkontrastdesign för enkel användning.

En annan viktig funktion i systemet är kalibreringsskalan. Dessa noggrant utformade skalor ger en visuell referens för mätningar och är ett viktigt verktyg för att kalibrera mätutrustning som mikroskopbord och XY-translationsbord. Skalorna är tillverkade av högkvalitativa material för att säkerställa hållbarhet och livslängd, och finns i olika storlekar för att möta kraven för olika tillämpningar.

Slutligen utgör GRIDS en viktig referenspunkt för precisionsmätningar. Dessa rutnät finns i en mängd olika mönster, från enkla rutnät till mer komplexa kors och cirklar, vilket ger en visuell referens för exakta mätningar. Varje rutnät är utformat för hållbarhet med ett högkontrast, laseretsat mönster för överlägsen noggrannhet.

En av de största fördelarna med STAGE MICROMETERS CALIBRATION SCALES GRIDS-systemet är dess bekvämlighet och mångsidighet. Med en rad olika mikrometrar, skalor och rutnät att välja mellan kan användarna välja den perfekta kombinationen för sin specifika tillämpning. Oavsett om det är i labbet, fältet eller fabriken, levererar systemet den noggrannhet och tillförlitlighet som yrkesverksamma kräver.

Så om du letar efter en pålitlig och högkvalitativ lösning för dina mätbehov, behöver du inte leta längre än till Stage Micrometer Calibration Ruler Grids. Med sin exceptionella precision, hållbarhet och bekvämlighet kommer detta system garanterat att bli ett värdefullt verktyg i din professionella arsenal.

stegmikrometrar kalibreringsskalor rutnät (1)
stegmikrometrar kalibreringsskalor rutnät (2)
stegmikrometrar kalibreringsskalor rutnät (3)
stegmikrometrar kalibreringsskalor rutnät (4)

Specifikationer

Substrat

B270

Dimensionell tolerans

-0,1 mm

Tjocklekstolerans

±0,05 mm

Ytjämnhet

3(1)@632,8nm

Ytkvalitet

40/20

Linjebredd

0,1 mm och 0,05 mm

Kanter

Slipad, max 0,3 mm. Fullbredd fasning

Klar bländare

90 %

Parallellism

<45”

Beläggning

         

Ogenomskinlig krom med hög optisk densitet, flikar <0,01 % vid synlig våglängd

Transparent område, AR R <0,35 % vid synlig våglängd


  • Tidigare:
  • Nästa:

  • Skriv ditt meddelande här och skicka det till oss