Graticules
-
Stegmikrometrar kalibrering skalar galler
Substrat:B270
Dimensionell tolerans:-0,1 mm
Tjocklekstolerans:±0,05 mm
Ytans planhet:3(1)@632,8nm
Ytkvalitet:40/20
Linjebredd:0,1 mm och 0,05 mm
Kanter:Slipat, max 0,3 mm.Avfasning i full bredd
Rensa bländare:90 %
Parallellism:<5”
Beläggning:Opak krom med hög optisk densitet, Tabs<0,01%@Visible Wavelength
Transparent area, AR: R<0,35%@Visible Wavelength -
Precisionsoptisk slits – krom på glas
Substrat:B270
Dimensionell tolerans:-0,1 mm
Tjocklekstolerans:±0,05 mm
Ytans planhet:3(1)@632,8nm
Ytkvalitet:40/20
Linjebredd:0,1 mm och 0,05 mm
Kanter:Slipat, max 0,3 mm.Avfasning i full bredd
Rensa bländare:90 %
Parallellism:<5”
Beläggning:Opak krom med hög optisk densitet, Tabs<0,01%@Visible Wavelength
